Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, TFA-MOD process, doping effect, long conductors, fabrication, reel-to-reel process, thickness dependence
Amemiya N., Hasegawa T., Mukoyama S., Yagi M., Ishiyama A., Wang X., Ohkuma T., Hayakawa N., Maruyama O., Liu J., Mitsuhashi T., Saitoh T.H.
Amemiya N., Saitoh T., Hasegawa T., Mukoyama S., Yagi M., Ishiyama A., Wang X., Ohkuma T., Hayakawa N., Maruyama O., Liu J., Mitsuhashi T.
Nakamura T., Higashikawa K., Kiss T., Izumi T., Shiohara Y., Hasegawa T., Inoue M., Takahashi Y., Kato T., Koizumi T., Yoshizumi M., Kimura K., Nakanishi T., Hironaga R.
Amemiya N., Saitoh T., Hasegawa T., Mukoyama S., Yagi M., Masuda T., Ishiyama A., Ohkuma T., Hayakawa N., Ashibe Y., Maruyama O.
Nakamura T., Izumi T., Shiohara Y., Hasegawa T., Kato T., Hirayama T., Yoshizumi M., Kimura K., Nakahata K.
Amemiya N., Saitoh T., Hasegawa T., Mukoyama S., Yagi M., Ishiyama A., Wang X., Ohkuma T., Hayakawa N., Maruyama O., Liu J., Nakayama R., Mitsuhashi T., Jun T.
Nakamura T., Izumi T., Shiohara Y., Hasegawa T., Takahashi Y., Koizumi T., Yoshizumi M., Kimura K., Nakanishi T., Hironaga R., Aoki N.
Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Hayashi H., Sato S., Iwakuma M., Yamada Y., Okamoto H., Koizumi T., Tomioka A., Ohkuma T., Gosho Y., Otonari T., Ogata T., Tsutsumi T.
Ключевые слова: HTS, Bi2212/Ag, wires round, fabrication, composition, microstructure, critical caracteristics, grain size, PIT process, critical current density
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, buffer layers, MOD process, fabrication, patents
Tachikawa K., Tamura H., Mito T., Aoki Y., Hasegawa T., Yamada Y., Koizumi T., Ishii Y., Shiohara K., Sakai S.
Iijima Y., Osamura K., Sugano M., Nagaya S., Saitoh T., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Kato T., Yamada Y., Nakao K., Ibi A., Nakashima N.
Ключевые слова: HTS, fabrication, patents, YBCO, substrate Ni, TFA-MOD process, coated conductors
Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Ito T., Takahashi Y., Hatakeyama H., Miyata S., Yoshizumi M.
Ключевые слова: presentation, HTS, coated conductors, roughness, IBAD process, buffer layers, texture, fabrication, substrate Hastelloy, planarization, MOD process, PLD process, microstructure
Tachikawa K., Aoki Y., Hasegawa T., Yamada Y., Nishioka J., Koizumi T., Hikichi Y., Shiohara K., Sakai S., Ohki S.
Goto T., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Yamada Y., Sutoh Y., Yajima A., Miura M., Yoshizumi M., Nakai A., Nakanishi T., Ichikawa Y.
Iijima Y., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Aoki Y., Hasegawa T., Takahashi Y., Yamada Y., Saito T., Koizumi T., Miyata S., Nakanashi T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, long conductors, fabrication, critical current, thickness dependence, heat treatment, substrate Ni-W, mechanical properties, coated conductors multifilamentary, coils model, coils solenoidal, insulation coating, current-voltage characteristics, magnetic field distribution, presentation, power equipment, critical caracteristics, magnetic properties
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.